发明名称 固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法
摘要 本发明公开了一种固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其中,所述固体颗粒物浓度分析装置具有发射单元和反射单元,所述发射单元包括处理模块、半导体发光器件及传感模块,所述反射单元包括被驱动模块驱动而转动的反射部件,所述反射部件转动周期为T0,所述传感模块每次采样的周期为T2,包括如下步骤:所述发射单元驱动半导体发光器件发射出测量光束,该测量光束穿过被测环境后,由所述反射部件将测量光束反射至所述发射单元的传感模块,进行光电转换后送处理模块进行数据处理;在数据采样中,T2与T0满足下面关系:T2=N1*T0+N2*ΔT,其中,N1、N2为正整数,ΔT为平台信号建立时间。
申请公布号 CN103196803B 申请公布日期 2015.06.24
申请号 CN201310057491.9 申请日期 2013.02.25
申请人 杭州创迅知识产权咨询有限公司 发明人 陈亚锋
分类号 G01N15/06(2006.01)I 主分类号 G01N15/06(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其中,所述固体颗粒物浓度分析装置具有发射单元和反射单元,所述发射单元包括中央处理模块、半导体发光器件及传感模块,其特征在于:所述反射单元包括被驱动模块驱动而转动的反射部件,所述反射部件转动周期为T0,所述传感模块每次采样的周期为T2,所述处理方法包括如下步骤:所述发射单元驱动半导体发光器件发射出测量光束,该测量光束穿过被测环境后,由所述反射部件将测量光束反射至所述发射单元的传感模块,进行光电转换后送中央处理模块进行数据处理;在数据采样中,T2与T0满足下面关系:T2=N1*T0+N2*ΔT,其中,N1、N2为正整数,ΔT为平台信号建立时间。2.根据权利要求1所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:T2与T0满足下面关系T2=N*T0+ΔT,N=N1、N2=1。3.根据权利要求1所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:T2与T0满足下面关系T2=N(T0+ΔT), N=N1=N2。4.根据权利要求1‑3中任一项所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:每采样T2时间后,进行数据处理,数据处理完毕后进行下次数据采样。5.根据权利要求1‑3中任一项所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:数据处理时剔除掉信号建立阶段采样的若干数据。6.根据权利要求1‑3中任一项所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:所述半导体发光器件包括半导体激光器和发光二极管。7.根据权利要求1‑3中任一项所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:所述固体颗粒物浓度分析装置为在线分析装置。8.根据权利要求1‑3中任一项所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:对采样获得的数据用累加平均滤波的方法进行处理。9.根据权利要求1‑3中任一项所述的固体颗粒物浓度分析装置的信号处理方法,其特征在于:对采样获得的数据采用加权平均滤波方法处理。
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