发明名称 | 密封盖测试装置 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWM503572 | 申请公布日期 | 2015.06.21 |
申请号 | TW103223271 | 申请日期 | 2014.12.30 |
申请人 | 财团法人金属工业研究发展中心 | 发明人 | 吴学文;郑伟凡;林渤咏;杨子賸;许志鹏 |
分类号 | G01R31/16 | 主分类号 | G01R31/16 |
代理机构 | 代理人 | 陈瑞田 高雄市凤山区建国路3段256之1号 | |
主权项 | 一种密封盖测试装置,用于测试一密封盖之密封特性,该密封盖测试装置包括:一第一测试件及一第二测试件,该第一测试件与该第二测试件为相同组件,该第一测试件及该第二测试件分别包括:一本体部,包括一管体及二端,该二端分别为一顶部及一底部,其中该管体为透明材料;以及一测试部,其位于该顶部的一外表面,具有一测试通孔,该测试通孔连通于该管体,以及一盲封盖组,包括具有一气压输入管所贯穿的一第一板体,其中该第一测试件堆叠设置于该第二测试件上,使该第一测试件的管体连通于该第二测试件的该测试通孔,该密封盖设置于该第二测试件的该测试通孔,该第一测试件的该管体内具有一液体,该盲封盖组的该第一板体设置于该第一测试件的该顶部或该第二测试件的该底部,该气压输入管连通于该管体用以输入一气压。 | ||
地址 | 高雄市楠梓区高楠公路1001号 |