发明名称 | 偏光膜的缺陷检测装置以及方法 | ||
摘要 | 本发明提供偏光膜的缺陷检测装置以及方法。偏光膜的缺陷检测装置的特征在于具有:接收部,其接收由自动光学检查机检查出的针对偏光膜的检查结果;以及检测部,其分析所述检查结果,检测偏光膜的缺陷,所述检测部根据缺陷类型(Defect Type)、ΔX(Dx)、ΔY(Dy)、面积(Area)、密度(Density)、尺寸(Size)、峰值(Peak)、厚度(Thickness)中的两个以上的参数,判别所述偏光膜的缺陷形态是接合异物、接合气泡、异物、亮点、刮痕、集群性亮点、一条线中的至少任意一种。 | ||
申请公布号 | CN104713886A | 申请公布日期 | 2015.06.17 |
申请号 | CN201410766749.7 | 申请日期 | 2014.12.11 |
申请人 | 东友精细化工有限公司 | 发明人 | 许宰宁;朴宰贤 |
分类号 | G01N21/896(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/896(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 李辉;黄纶伟 |
主权项 | 一种偏光膜的缺陷检测装置,其特征在于,该偏光膜的缺陷检测装置具有:接收部,其接收由自动光学检查机检查出的针对偏光膜的检查结果;以及检测部,其分析所述检查结果,检测偏光膜的缺陷,所述检测部根据缺陷类型、ΔX、ΔY、面积、密度、尺寸、峰值、厚度中的两个以上的参数,判别所述偏光膜的缺陷形态是接合异物、接合气泡、异物、亮点、刮痕、集群性亮点、一条线中的至少任意一种。 | ||
地址 | 韩国全罗北道 |