一种64bit位宽的并行CRC32校验方法及装置

摘要

64bit位宽的并行CRC32校验方法及装置，所述方法包括：对输入数据以64bit进行位宽匹配，若判断出输入数据不足64bit，则将预设的56比特数据中低8i比特数据作为填充比特添加到所述输入数据的尾部，得到64bit的数据；其中，i＝1、2、...、7；对所述64bit的数据进行CRC32-D64校验，然后将得到的校验结果与所述填充比特对应的CRC校验值进行比较，若两者相同，则判定CRC校验正确；若两者不同，则判定CRC校验错误；所述填充比特对应的CRC校验值是利用校验矩阵F_i32计算得到并预先存储的。采用本发明后，使得对连续数据的校验在不损失性能的前提下，极大的缩减了资源，提升Fmax的频率。

主权项

一种64bit位宽的并行CRC32校验方法，包括：对输入数据以64bit进行位宽匹配，若判断出输入数据不足64bit，则将预设的56比特数据中低8i比特数据作为填充比特添加到所述输入数据的尾部，得到64bit的数据；其中，i＝1、2、…、7；对所述64bit的数据进行CRC32‑D64校验，然后将得到的校验结果与所述填充比特对应的CRC校验值进行比较，若两者相同，则判定CRC校验正确；若两者不同，则判定CRC校验错误；所述填充比特对应的CRC校验值是利用校验矩阵F_i32计算得到并预先存储的；所述填充比特对应的CRC校验值是利用校验矩阵F_i32计算得到并预先存储是指：利用校验矩阵F_i32计算出预设的56比特数据中低8i比特数据对应的CRC校验值，并存储所述56比特数据中低8i比特数据对应的CRC校验值，计算的步骤具体包括：利用下式计算所述56比特数据中低8i比特数据对应的校验值C′_8i：C′_8i＝(F_i32×C′_8(i‑1))⊕(F_d8×D′_8i)其中，×表示按位进行逻辑与运算，⊕表示按位进行逻辑异或运算；F_d8表示8bit位宽的数据生成矩阵；F_i32为32bit位宽数据对应的CRC32校验矩阵；C′₀值为0xc704dd7b；D′_8i为所述56比特数据中低8i比特数据中的高8bit数据。