| 发明名称 | 用于检验带有斜面的物体的方法及系统 | ||
| 摘要 | 一种检验系统和方法。该方法可以包括：用第一偏振的入射光照射物体；执行(a)多重反射光信号的基于偏振的滤波，每个多重反射光信号从物体的至少两个不同的倾斜侧面被反射，以及执行(b)附加光信号的基于偏振的滤波，每个附加光信号从物体的一个单独的元件被反射，从而抑制多重反射光信号和提供基于偏振的滤波光信号；以及，检测基于偏振的滤波光信号。 | ||
| 申请公布号 | CN102445418B | 申请公布日期 | 2015.06.17 |
| 申请号 | CN201110293912.9 | 申请日期 | 2011.08.10 |
| 申请人 | 卡姆特有限公司 | 发明人 | Z·本-埃泽尔 |
| 分类号 | G01N21/21(2006.01)I;G01N21/15(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/21(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 王朝辉 |
| 主权项 | 一种用于检验带有斜面的物体的方法，包括：用第一偏振的入射光照射物体；执行(a)多重反射光信号的基于偏振的滤波，每个多重反射光信号从物体的至少两个不同的倾斜侧面被反射，以及执行(b)附加光信号的基于偏振的滤波，每个附加光信号从物体的一个单独的元件被反射，从而抑制多重反射光信号和提供基于偏振的滤波光信号；以及检测基于偏振的滤波光信号。 | ||
| 地址 | 以色列米格达勒埃梅克 | ||