发明名称 一种半导体致冷组件虚焊测试仪
摘要 一种半导体致冷组件虚焊测试仪,其特征在于,包括电压冲击电路和电阻测试装置,其中:所述电压冲击电路具备三条支路,第一支路串联有若干个被测致冷元件以及时间继电器触点;第二支路设置有时间继电器,用于控制所述时间继电器触点的断开时间;第三支路串联设置有电源和开关,用于为所述电压冲击电路提供电压;所述电阻测试装置为电阻表,用于测试经过电压冲击后的每个所述被测致冷元件的电阻变化。利用本实用新型的半导体致冷组件虚焊测试仪,能够检测出半导体致冷元件的虚焊现象,提高产品在使用过程中的可靠性,电路简单,方便实现。
申请公布号 CN204405586U 申请公布日期 2015.06.17
申请号 CN201520068922.6 申请日期 2015.01.30
申请人 香河华北致冷设备有限公司 发明人 丁志海;曹茜
分类号 G01N27/20(2006.01)I 主分类号 G01N27/20(2006.01)I
代理机构 北京金信知识产权代理有限公司 11225 代理人 刘锋;朱梅
主权项 一种半导体致冷组件虚焊测试仪,其特征在于,包括电压冲击电路和电阻测试装置,其中:所述电压冲击电路具备相互并联三条支路,第一支路串联有若干个被测致冷元件以及时间继电器触点;第二支路设置有时间继电器,用于控制所述时间继电器触点的断开时间;第三支路串联设置有电源和开关,用于为所述电压冲击电路提供电压;所述电阻测试装置为电阻表,用于测试经过电压冲击后的每个所述被测致冷元件的电阻变化。
地址 065400 河北省廊坊市香河县香河现代产业园宝海路7号