半导体装置检查用插座装置;SOCKET DEVICE FOR TESTING A SEMICONDUCTOR DEVICE

摘要

提供因柄杆具有柄杆突出部，闩扣具有长孔部而具有正确的柄杆比，使覆盖力(Cover Force)划期性地减少的半导体装置检査用插座装置。本发明系关于半导体装置检査用插座装置者，尤其系关于藉由形成正确的柄杆比，使覆盖力(Cover Force)划期性地减少，藉由在闩扣板形成止动件，防止轴脱离，且加大闩扣板的开放量的半导体装置检査用插座装置者。本发明系一种半导体封装体检査用插座，其系具有：位于插座的下端部，呈四角状，具有4支脚，固定可回旋地固定闩扣的轴的基底；位于前述基底的上方，藉由4个护盖弹簧被弹性加压，固定用以固定柄杆的轴的护盖；在前述护盖的内部系设有：以轴被固定在前述基底与前述护盖进行回旋的闩扣组件；在前述闩扣的两前端部系形成有榫轴，在前述榫轴插入闩扣板的孔洞而以可回旋的方式予以固定的闩扣板；及具有被投入半导体封装体的半导体封装体装载部的半导体封装体检査用插座，前述柄杆系形成有突起部、及凹陷部，前述突起部系以与前述护盖的轴相接触而沿着前述突起部的外围移动的方式构成。