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发明名称
检测系统的校正与除错方法
摘要
一种检测系统的校正与除错方法,系先分别对不同电路区段进行数值校正,并储存校正时的参数;而校正后,便可开始对待测物进行后续之电性检测,而后,当检测系统故障时,则再一次对不同电路区段进行数值校正,并比对当下取得之参数与先前储存的参数间的差异,以快速找出该检测系统之故障处。
申请公布号
TW201523011
申请公布日期
2015.06.16
申请号
TW102146114
申请日期
2013.12.13
申请人
旺矽科技股份有限公司 MPI CORPORATION
发明人
顾伟正 KU, WEI CHENG;吕绍玮 LU, SHAO WEI;魏豪 WEI, HAO;王友泽 WANG, YU TSE
分类号
G01R35/00(2006.01);G01R31/02(2006.01)
主分类号
G01R35/00(2006.01)
代理机构
代理人
廖钲达
主权项
地址
新竹县竹北市中和街155号1至3楼 TW
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