发明名称 检测系统的校正与除错方法
摘要 一种检测系统的校正与除错方法,系先分别对不同电路区段进行数值校正,并储存校正时的参数;而校正后,便可开始对待测物进行后续之电性检测,而后,当检测系统故障时,则再一次对不同电路区段进行数值校正,并比对当下取得之参数与先前储存的参数间的差异,以快速找出该检测系统之故障处。
申请公布号 TW201523011 申请公布日期 2015.06.16
申请号 TW102146114 申请日期 2013.12.13
申请人 旺矽科技股份有限公司 MPI CORPORATION 发明人 顾伟正 KU, WEI CHENG;吕绍玮 LU, SHAO WEI;魏豪 WEI, HAO;王友泽 WANG, YU TSE
分类号 G01R35/00(2006.01);G01R31/02(2006.01) 主分类号 G01R35/00(2006.01)
代理机构 代理人 廖钲达
主权项
地址 新竹县竹北市中和街155号1至3楼 TW