一种电阻检验方法

摘要

本发明公开了一种电阻检验方法，包括如下步骤：在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I；检测当前环境温度t；根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R；根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α；根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20；根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值；本发明能够有效降低校验误差，准确实用。

主权项

一种电阻检验方法，其特征在于包括如下步骤：①在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I；②检测当前环境温度t；③根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R；④根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α；⑤根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t‑20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20；⑥根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值；⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果。