| 摘要 |
<p>본 발명은 각종 전자부품의 전기 검사를 위해 전자부품의 전극 패턴에 접하여 전류를 인가하는 전기 검사용 테스트 지그 핀을 효과적으로 청소할 수 있는 전기 검사용 테스트 지그의 청소장치 및 이를 갖는 전자부품의 검사장치에 관한 것이다. 본 발명에 의한 전기 검사용 테스트 지그의 청소장치는, 복수의 지그 핀을 향해 에어를 분사하여 복수의 지그 핀에 묻은 이물질을 불어 내는 에어 분사기구와, 복수의 지그 핀 표면에 끼인 이물질을 제거하기 위한 이물질 박리기구를 포함한다. 이물질 박리기구는, 복수의 지그 핀이 파고들 때 복수의 지그 핀과의 마찰에 의해 복수의 지그 핀 표면에 끼인 이물질을 박리할 수 있는 이물질 박리재와, 복수의 지그 핀이 관통할 수 있도록 이물질 박리재의 상부에 배치되고 복수의 지그 핀이 이물질 박리재 속으로 파고들었다가 외부로 빠져나갈 때 복수의 지그 핀의 표면에 밀착되어 복수의 지그 핀의 표면을 닦아내는 와이핑 시트를 갖는다.</p> |
