发明名称 Sample element of self-assembled lateral quantum dot molecules and producing method thereof, and method for analysis of coulomb interaction signatures using the same
摘要 <p>본 발명의 일 실시 예에 따른 측면 자발형성 양자점 분자 시료 소자는, 하부 단자층 상부에 n-도핑된 GaAs기판; 상기 GaAs기판에 형성된 80nm의 제1 GaAs층; 상기 제1 GaAs층 표면에 성장하여 배열된 InAs QD(Quantum Dot )층; 상기 InAs QD층에 부분적으로 10-monolayer두께의 GaAs로 캡핑되는 캡핑층; 상기 캡핑층 상부에 형성된 제2 GaAs층; 상기 제2 GaAs층 상부에 형성된 50nm 두께의 AlGaAs층; 및, 상기 AlGaAs층 상부에 형성된 제3 GaAs층; 상기 제3 GaAs층 상부에는 8nm로 형성된 Ti 단자층; 을 포함하는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR101526546(B1) 申请公布日期 2015.06.09
申请号 KR20130144869 申请日期 2013.11.26
申请人 发明人
分类号 B82B3/00;G01N1/00;G01N21/62 主分类号 B82B3/00
代理机构 代理人
主权项
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