发明名称 Photomask including ion trapping layer and method of manufacturing semiconductor device using the photomask
摘要 이온 트랩막을 포함하는 포토마스크 및 이를 이용하는 반도체 소자의 제조 방법을 제공한다. 본 발명에 따른 포토마스크는 투명 기판과, 투명 기판 주위에 있는 이온들을 트랩핑하기 위하여 투명 기판의 제1 영역 위에 형성된 이온 트랩막을 포함한다. 본 발명에 따른 방법에 의해 반도체 소자를 제조하기 위하여, 투명 기판상에 이온 트랩막이 형성된 포토마스크를 통하여 기판상의 감광막을 노광하고, 그 결과 얻어진 감광막 패턴을 이용하여 기판을 가공한다.
申请公布号 KR101525497(B1) 申请公布日期 2015.06.04
申请号 KR20080091615 申请日期 2008.09.18
申请人 삼성전자주식회사 发明人 이한신;최재혁;정해영;고형호;정진식;오종근;강수정
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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