发明名称 |
一种频率测试方法及系统 |
摘要 |
本发明的目的是提供一种频率测试方法,所述方法包括:步骤一,获取时间脉冲A;步骤二,使用所述时间脉冲A测量晶振时钟频率,获得晶振实时时钟频率值F;步骤三,使用所述晶振测量待测对象,获得一段时间内待测对象的时钟个数值N,同时获得这段时间内晶振的时钟个数值M;步骤四,根据待测对象频率测试值f=(N/M)*F,计算并输出待测对象的频率测试值。采用本发明的技术方案后,解决了现有技术中频率测试的高精度晶振成本高,使用麻烦,低精度晶振精度不高,不能适应高精度要求,且通过将卫星授时加入到频率测试中,让低精度的晶振提高了测试精度,具有体积小,价格便宜,精度较高,不需预热即可使用,测试精度稳定等优点。 |
申请公布号 |
CN103901271B |
申请公布日期 |
2015.06.03 |
申请号 |
CN201210567479.8 |
申请日期 |
2012.12.25 |
申请人 |
泰斗微电子科技有限公司 |
发明人 |
吴钊锋 |
分类号 |
G01R23/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01R23/10(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种频率测试方法,其特征在于,所述方法包括:步骤一,获取时间脉冲A;步骤二,使用所述时间脉冲A测量晶振时钟频率,获得晶振实时时钟频率值F;步骤三,使用所述晶振测量待测对象,获得一段时间内待测对象的时钟个数值N,同时获得这段时间内晶振的时钟个数值M;步骤四,计算并输出待测对象的频率测试值f,所述待测对象的频率测试值f= (N/M)*F。 |
地址 |
523808 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区总部二路17号A410-A411室 |