发明名称 一种频率测试方法及系统
摘要 本发明的目的是提供一种频率测试方法,所述方法包括:步骤一,获取时间脉冲A;步骤二,使用所述时间脉冲A测量晶振时钟频率,获得晶振实时时钟频率值F;步骤三,使用所述晶振测量待测对象,获得一段时间内待测对象的时钟个数值N,同时获得这段时间内晶振的时钟个数值M;步骤四,根据待测对象频率测试值f=(N/M)*F,计算并输出待测对象的频率测试值。采用本发明的技术方案后,解决了现有技术中频率测试的高精度晶振成本高,使用麻烦,低精度晶振精度不高,不能适应高精度要求,且通过将卫星授时加入到频率测试中,让低精度的晶振提高了测试精度,具有体积小,价格便宜,精度较高,不需预热即可使用,测试精度稳定等优点。
申请公布号 CN103901271B 申请公布日期 2015.06.03
申请号 CN201210567479.8 申请日期 2012.12.25
申请人 泰斗微电子科技有限公司 发明人 吴钊锋
分类号 G01R23/10(2006.01)I 主分类号 G01R23/10(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种频率测试方法,其特征在于,所述方法包括:步骤一,获取时间脉冲A;步骤二,使用所述时间脉冲A测量晶振时钟频率,获得晶振实时时钟频率值F;步骤三,使用所述晶振测量待测对象,获得一段时间内待测对象的时钟个数值N,同时获得这段时间内晶振的时钟个数值M;步骤四,计算并输出待测对象的频率测试值f,所述待测对象的频率测试值f= (N/M)*F。
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