发明名称 一种全隔离背照式图像传感器及其制造方法
摘要 本发明公开一种全隔离背照式图像传感器结构,由上至下依次包括:承载基片、后道膜层、外延后的器件硅基、埋入氧化层、滤光片和微透镜;所有器件制造在埋入氧化层上的器件硅基上;该图像传感器感光单元的隔离采用沟槽隔离,并且填充绝缘介质的沟槽与埋入氧化层直接连接,将感光单元有源区彼此完全隔离;所述器件硅基上形成有光电二极管,光电二级管的接地通过正表面的浓掺杂区引出。此外,本发明还公开了该全隔离背照式图像传感器的制造方法。本发明解决了现有工艺易发生的混色(cross talk)问题;埋入氧化层简化了BSI(背照式CMOS)背面工艺的复杂度,对器件进行了无损保护,避免了背面薄化均匀性不好,量子效率不一致等问题。
申请公布号 CN104659040A 申请公布日期 2015.05.27
申请号 CN201310586603.X 申请日期 2013.11.20
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 刘华明
分类号 H01L27/146(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 王函
主权项 一种全隔离背照式图像传感器结构,其特征在于:由上至下依次包括:承载基片、后道膜层、外延后的器件硅基、埋入氧化层、滤光片和微透镜;所有器件制造在埋入氧化层上的器件硅基上;该图像传感器感光单元的隔离采用沟槽隔离,并且填充绝缘介质的沟槽与埋入氧化层直接连接,将感光单元有源区彼此完全隔离;所述器件硅基上形成有光电二极管,光电二级管的接地通过正表面的浓掺杂区引出。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
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