| 主权项 |
一种发光二极体的检测装置，适于对一发光二极体进行检测，该检测装置包括：一反射罩，具有一开口；一底板，与该反射罩的该开口接触，且与该反射罩定义出一密闭空间，其中该发光二极体配置于该底板上且位于该密闭空间中；一收光单元，配置于该发光二极体的上方且至少部分位于该密闭空间中，其中该收光单元至该发光二极体的垂直距离为H，而该反射罩的该开口的宽度为W，且该H/W=0.05~10；以及至少一检测光源，位于该密闭空间中，其中该检测光源所发出的一检测光经该反射罩反射而入射至该发光二极体，该检测光的主要发光波长小于该发光二极体的主要发光波长。
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