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经营范围
发明名称
半导体加工方法
摘要
申请公布号
TWI485771
申请公布日期
2015.05.21
申请号
TW097129876
申请日期
2008.08.06
申请人
日立全球先端科技股份有限公司
发明人
小野哲郎;齐藤刚
分类号
H01L21/31;H01L21/306
主分类号
H01L21/31
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
一种半导体加工方法,系将层积有:含有Hf或Zr的绝缘膜、及形成在前述绝缘膜上且含有Ti、Ta或Ru的第一膜、及形成在前述第一膜上的光阻剂的半导体基板,使用电浆来进行加工的半导体加工方法,其特征为:使用前述光阻剂,藉由电浆,将前述第一膜加工成65nm以下的尺寸,一面对前述第一膜已被加工成65nm以下的尺寸的半导体基板施加偏压电压,一面使用H2气体,将前述第一膜已被加工成65nm以下的尺寸的半导体基板进行电浆处理。
地址
日本
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