发明名称 半导体加工方法
摘要
申请公布号 TWI485771 申请公布日期 2015.05.21
申请号 TW097129876 申请日期 2008.08.06
申请人 日立全球先端科技股份有限公司 发明人 小野哲郎;齐藤刚
分类号 H01L21/31;H01L21/306 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种半导体加工方法,系将层积有:含有Hf或Zr的绝缘膜、及形成在前述绝缘膜上且含有Ti、Ta或Ru的第一膜、及形成在前述第一膜上的光阻剂的半导体基板,使用电浆来进行加工的半导体加工方法,其特征为:使用前述光阻剂,藉由电浆,将前述第一膜加工成65nm以下的尺寸,一面对前述第一膜已被加工成65nm以下的尺寸的半导体基板施加偏压电压,一面使用H2气体,将前述第一膜已被加工成65nm以下的尺寸的半导体基板进行电浆处理。
地址 日本