一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法和装置

摘要

一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法，应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片，包括如下步骤：1)读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2)；2)再次读取校表参数校验和寄存器的值，先与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3)；3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，则复位该计量芯片，若不相等，则不作处理。本发明的方法和装置能有效可靠地检测计量芯片错误并进行纠错处理，保证计量芯片正常工作。

主权项

一种计量芯片抗干扰检测及纠错方法，应用于内设有校表参数校验和寄存器的计量芯片，该计量芯片在校表完成时对该校表参数校验和寄存器的值进行备份，其特征在于：包括如下步骤：1)读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2)；2)再次读取校表参数校验和寄存器的值，与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3)；3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，则复位该计量芯片，若不相等，则不作处理。