| 发明名称 | 数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法，所述数据线合格性测试方法包括：根据第一预设数据电压点亮距离数据驱动电路最近的第一像素，并根据第二预设数据电压点亮距离数据驱动电路最远的第二像素；所述第一像素和所述第二像素对应连接同一条被测数据线；获取所述第一像素的亮度和所述第二像素的亮度；判断所述第一像素的亮度与所述第二像素的亮度的实际亮度差是否大于预设亮度差；并在所述实际亮度差大于预设亮度差时，判定所述被测数据线不符合要求。本发明提供的数据线测试方法，可以在不设置金属测试线的情况下完成对数据线的合格性测试，能够从根本上避免因设置金属测试线导致的封装失效的问题。 | ||
| 申请公布号 | CN104637834A | 申请公布日期 | 2015.05.20 |
| 申请号 | CN201510094570.6 | 申请日期 | 2015.03.03 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 | 发明人 | 张博 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I;H01L21/82(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 李相雨 |
| 主权项 | 一种数据线合格性测试方法，其特征在于，包括：根据第一预设数据电压点亮距离数据驱动电路最近的第一像素，并根据第二预设数据电压点亮距离数据驱动电路最远的第二像素；所述第一像素和所述第二像素对应连接同一条被测数据线；获取所述第一像素的亮度和所述第二像素的亮度；判断所述第一像素的亮度与所述第二像素的亮度的实际亮度差是否大于预设亮度差；并在所述实际亮度差大于预设亮度差时，判定所述被测数据线不符合要求。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||