一种验证专用集成电路的装置和方法

摘要

本发明公开了一种验证专用集成电路的装置和方法。在本发明中，设计一个模拟射频部分的发送与接收的逻辑模块，通过该逻辑模块将测试终端提供的测试数据进行射频部分的处理后传递给LTE ASIC，以及将LTE ASIC根据测试数据进行相应处理后反馈的反馈数据进行射频部分的处理后传递给测试终端，使得测试终端能根据发送给逻辑模块的测试数据和从逻辑模块所接收的反馈数据对LTE ASIC进行验证。本发明的技术方案，使得在LTE ASIC的初步试产阶段，不再需要送到封装测试厂内的机台上进行验证测试，而是利用一个计算机和采用FPGA设计的逻辑模块在实验室内就可以完成对LTEASIC的快速验证，节省成本。

主权项

一种验证长期演进专用集成电路LTE ASIC的装置，其特征在于，该装置包括：通用串行总线USB接口单元和数据转换单元；所述通用串行总线USB接口单元，用于接收来自测试终端的USB测试数据包并发送给所述数据转换单元，以及，接收来自所述数据转换单元的USB反馈数据包并发送给所述测试终端，使得所述测试终端能够根据发送的所述USB测试数据包和接收的所述USB反馈数据对所述LTE ASIC进行验证；所述数据转换单元，用于对接收到的所述USB测试数据包进行解析，并对解析出的第一测试数据进行速率转换，获得第二测试数据发送给所述LTE ASIC，以及接收所述LTE ASIC对所述第二测试数据进行处理后发送的第一反馈数据，对所述第一反馈数据进行速率转换，获得第二反馈数据，对所述第二反馈数据进行打包得到USB反馈数据包，并发送给所述通用串行总线USB接口单元，其中，所述第二测试数据的速率是所述第一测试数据的速率的两倍，所述第一反馈数据的速率是所述第二反馈数据的速率的两倍；所述数据转换单元包括：转储单元、以及分别与所述转储单元连接的下行数据处理单元和上行数据处理单元，其中：所述转储单元，用于对接收到的所述USB测试数据包进行解析，并将解析生成的第一测试数据发送给所述下行数据处理单元，以及，接收所述上行数据处理单元发送的第二反馈数据，并打包成USB反馈数据包后发送给所述通用串行总线USB接口单元；其中，所述第一测试数据包括：两路单倍速率测试数据信号和下行帧使能信号，所述第二反馈数据包括：两路单倍速率反馈数据信号和上行帧使能信号；所述下行数据处理单元，用于在接收的所述第一测试数据中的下行帧使能信号的控制下，根据设定的下行时钟信号的采样频率，对所述第一测试数据中的两路单倍速率测试数据信号进行轮循采样，得到一路双倍速率下行数据信号，将包括所述下行帧使能信号、所述下行时钟信号和所述双倍速率下行数据信号的第二测试数据发送给所述LTE ASIC；所述上行数据处理单元，用于接收所述LTE ASIC对所述第二测试数据进行处理后发送的第一反馈数据，根据所述第一反馈数据中的双倍速率上行数据信号的有效数据的有无生成上行帧使能信号，根据所述第一反馈数据中的上行时钟信号的采样频率，从所述第一反馈数据中的双倍速率上行数据信号中分离出两路单倍速率反馈数据信号，将包括所述两路单倍速率反馈数据信号和所述上行帧使能信号的第二反馈数据发送给所述转储单元。