| 摘要 |
回路経路内の伝搬遅延を測定するための回路。本回路は、回路経路を有するループに接続され得るワンショットエッジトリガ素子を含む。回路経路を通じて伝搬するエッジ信号は、ワンショット素子をトリガして、パルスを出力する。ループ周辺を伝搬するパルスは、再びワンショット素子をトリガして、パルスを発生させ、反復する一連のパルスを作成する。これらのパルス間の周期は、回路経路がループに接続されているものと、接続されていないものの周期の差が、回路経路内の伝搬遅延を示すように、ループを通ったエッジの伝搬時間によって影響を受ける。本回路は、立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジに関連付けられる伝搬遅延を、独立して測定し、したがって、それを較正し得る。立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジに関する伝搬遅延を別々に均一化する較正は、自動試験システムのタイミング精度を増加させ得る。 |
