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发明名称
矽系基板、半导体装置及半导体装置的制造方法
摘要
本发明是一种矽系基板,用以在表面形成氮化物系化合物半导体层,该矽系基板的特征在于具有:第一部分,其具有第一杂质浓度且位于前述矽系基板的表面侧;及,第二部分,其具有比前述第一杂质浓度高的第二杂质浓度,且位于前述矽系基板的比前述第一部分更内侧处;并且,前述第一杂质浓度是1×10 14 atoms/atoms cm 3 以上且未满1×10 19 atoms/cm 3 。藉此,提供一种矽系基板,其可改善基板的翘曲,并良好地维持形成于上层的氮化物系化合物半导体层的结晶性。
申请公布号
TW201519315
申请公布日期
2015.05.16
申请号
TW103117346
申请日期
2014.05.16
申请人
三垦电气股份有限公司 SANKEN ELECTRIC CO., LTD.
发明人
鹿内洋志 SHIKAUCHI, HIROSHI;佐藤宪 SATO, KEN;后藤博一 GOTO, HIROKAZU;筱宫胜 SHINOMIYA, MASARU;土屋庆太郎 TSUCHIYA, KEITARO;萩本和德 HAGIMOTO, KAZUNORI
分类号
H01L21/318(2006.01)
主分类号
H01L21/318(2006.01)
代理机构
代理人
蔡坤财李世章
主权项
地址
日本 JP;
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