发明名称 矽系基板、半导体装置及半导体装置的制造方法
摘要 本发明是一种矽系基板,用以在表面形成氮化物系化合物半导体层,该矽系基板的特征在于具有:第一部分,其具有第一杂质浓度且位于前述矽系基板的表面侧;及,第二部分,其具有比前述第一杂质浓度高的第二杂质浓度,且位于前述矽系基板的比前述第一部分更内侧处;并且,前述第一杂质浓度是1×10 14 atoms/atoms cm 3 以上且未满1×10 19 atoms/cm 3 。藉此,提供一种矽系基板,其可改善基板的翘曲,并良好地维持形成于上层的氮化物系化合物半导体层的结晶性。
申请公布号 TW201519315 申请公布日期 2015.05.16
申请号 TW103117346 申请日期 2014.05.16
申请人 三垦电气股份有限公司 SANKEN ELECTRIC CO., LTD. 发明人 鹿内洋志 SHIKAUCHI, HIROSHI;佐藤宪 SATO, KEN;后藤博一 GOTO, HIROKAZU;筱宫胜 SHINOMIYA, MASARU;土屋庆太郎 TSUCHIYA, KEITARO;萩本和德 HAGIMOTO, KAZUNORI
分类号 H01L21/318(2006.01) 主分类号 H01L21/318(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财李世章
主权项
地址 日本 JP;