| 发明名称 | 金属系粒子集合体 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种金属系粒子集合体和具备其的光学元件。所述金属系粒子集合体为30个以上的金属系粒子相互隔开并二维配置而成的金属系粒子集合体，其中，该金属系粒子的平均粒径为200～1600nm的范围内，平均高度为55～500nm的范围内，以平均粒径相对于平均高度之比定义的纵横比为1～8的范围内，在从相对于该金属系粒子集合体表面的法线方向照射入射光时从距离该入射光30°的角度处散射的光的散射光谱中，当将峰强度最大的峰的最大波长处的散射强度设为S<sub>1</sub>，将包含硫酸钡层的参照系的所述峰的散射强度设为S<sub>0</sub>时，散射强度比S<sub>1</sub>/S<sub>0</sub>为0.15以上。 | ||
| 申请公布号 | CN104620393A | 申请公布日期 | 2015.05.13 |
| 申请号 | CN201380047806.X | 申请日期 | 2013.09.02 |
| 申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 福浦知浩 |
| 分类号 | H01L31/0216(2014.01)I;H01L31/0236(2006.01)I;H01L51/52(2006.01)I;H01L31/055(2014.01)I | 主分类号 | H01L31/0216(2014.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 葛凡 |
| 主权项 | 一种金属系粒子集合体，其为30个以上的金属系粒子相互隔开并二维配置而成的金属系粒子集合体，其中，所述金属系粒子的平均粒径为200～1600nm的范围内，平均高度为55～500nm的范围内，以所述平均粒径相对于所述平均高度之比定义的纵横比为1～8的范围内，在从相对于所述金属系粒子集合体表面的法线方向照射入射光时从距离所述入射光30°的角度处散射的光的散射光谱中，当将以峰强度最大的峰的最大波长处的散射强度设为S<sub>1</sub>，将包含硫酸钡层的参照系的所述峰的散射强度设为S<sub>0</sub>时，散射强度比S<sub>1</sub>/S<sub>0</sub>为0.15以上。 | ||
| 地址 | 日本国东京都 | ||