发明名称 Mit einem Strahl geladener Teilchen arbeitende Vorrichtung und Probenbeobachtungsverfahren
摘要 Bei einem Probenbeobachtungsverfahren wird eine Probe mit einem Strahl primärer geladener Teilchen bestrahlt, wird ein durch die Bestrahlung erhaltenes Signal sekundärer geladener Teilchen detektiert und wird die Probe beobachtet. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass der Strahl primärer geladener Teilchen, der in einem in einem Vakuumzustand gehaltenen Tubus der optischen Linse für geladene Teilchen erzeugt wird, von einem Trennfilm durchgelassen wird oder dadurch hindurchtreten gelassen wird, welcher angeordnet ist, um einen Raum, in dem sich die Probe befindet, vom Tubus der optischen Linse für geladene Teilchen zu isolieren, und ein durchgelassener Strahl geladener Teilchen detektiert wird, der durch Bestrahlen der Probe, die in einem Atmosphärendruck oder einer vorgegebenen Gasatmosphäre mit einem leichten Unterdruck gegenüber dem Atmosphärendruck angeordnet ist, mit dem Strahl primärer geladener Teilchen erhalten wird.
申请公布号 DE112013003726(T5) 申请公布日期 2015.05.13
申请号 DE20131103726T 申请日期 2013.06.28
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 OMINAMI, YUSUKE,;ITO, SUKEHIRO,
分类号 H01J37/244;H01J37/16;H01J37/18;H01J37/20 主分类号 H01J37/244
代理机构 代理人
主权项
地址