发明名称 |
Halbleiterschichtenfolge und Verfahren zu deren Herstellung |
摘要 |
In mindestens einer Ausführungsform weist die Halbleiterschichtenfolge (10) eine n-leitende n-Seite (11), eine p-leitende p-Seite (13) und eine dazwischen liegende aktive Zone (2) auf. Die aktive Zone (2) weist mindestens eine strahlungsaktive Schicht (21) mit einer ersten Materialzusammensetzung zur Erzeugung einer ersten Strahlung (L1) auf. Die zumindest eine strahlungsaktive Schicht (21) ist senkrecht zu einer Wachstumsrichtung (z) der Halbleiterschichtenfolge orientiert. Ferner weist die aktive Zone (2) eine Vielzahl von strahlungsaktiven Schläuchen (22) mit einer zweiten Materialzusammensetzung oder einer anderen Kristallstruktur zur Erzeugung einer zweiten Strahlung (L2) auf, wobei die zweite Materialzusammensetzung von der ersten Materialzusammensetzung verschieden ist. Die strahlungsaktiven Schläuche (22) sind parallel zur Wachstumsrichtung (z) orientiert. |
申请公布号 |
DE102013112490(A1) |
申请公布日期 |
2015.05.13 |
申请号 |
DE201310112490 |
申请日期 |
2013.11.13 |
申请人 |
OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH |
发明人 |
EBBECKE, JENS;KAUSS, CLAUDIA;SUNDGREN, PETRUS |
分类号 |
H01L33/08;H01L33/18;H01L33/24 |
主分类号 |
H01L33/08 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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