发明名称 新架构的智能测试系统
摘要 本实用新型提供了一种新架构的智能测试系统,包括调理模块组,所述调理模块组与外部TEDS传感器之间设有信号调理自动配置矩阵开关模块;调理模块组与数据采集模块之间设有信号采集自动配置矩阵开关模块;控制模块控制连接信号调理自动配置矩阵开关模块、信号采集自动配置矩阵开关模块,同时还通过TEDS矩阵开关自动配置模块连接外部TEDS传感器的TEDS信息管脚。本实用新型结构简单、检测过程简便,无需人工输入传感器信息,且无需人工切换测试通道和更换传感器和调理模块,极大提高了检测效率。本实用新型适用于经过智能化改造后的传感器输出信号进行自动调理和自动测试。
申请公布号 CN204330003U 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201420758015.X 申请日期 2014.12.05
申请人 中国人民解放军军械工程学院 发明人 邓士杰;唐力伟;于贵波;丁超;张礼学;张林锐
分类号 G01D21/00(2006.01)I;G01D3/028(2006.01)I 主分类号 G01D21/00(2006.01)I
代理机构 石家庄科诚专利事务所 13113 代理人 张红卫
主权项 一种新架构的智能测试系统,包括调理模块组、矩阵开关模块、数据采集模块、控制模块,<b>其特征在于:</b>所述调理模块组与外部TEDS传感器之间设有信号调理自动配置矩阵开关模块,所述信号调理自动配置矩阵开关模块设置有与外部TEDS传感器数量相同的列通道,以及与调理模块组中的调理模块的数量相同的行通道,每一列通道的信号输入端对应连接唯一的TEDS传感器的测试信号输出端,每一行通道信号输出端连接唯一对应的调理模块组中的调理模块的信号输入端;调理模块组与数据采集模块之间设有信号采集自动配置矩阵开关模块,所述信号采集自动配置矩阵开关模块设置有与调理模块组中的调理模块的数量相同的行通道,以及与数据采集模块通道数量相同的列通道,每一行通道的信号输入端对应连接唯一的调理模块组中各个调理模块的信号输出端,每一列通道的信号输出端通过数据采集模块连接控制模块;所述控制模块控制连接信号调理自动配置矩阵开关模块、信号采集自动配置矩阵开关模块,同时还通过TEDS矩阵开关自动配置模块连接外部TEDS传感器的TEDS信息管脚。
地址 050000 河北省石家庄市和平东路97号