发明名称 半導体装置
摘要 【課題】半導体装置におけるダイボンドの信頼性を向上することを目的にしている。【解決手段】 裏面側にメタライズ層が形成されている半導体素子と、半導体素子と間隔を隔てて平行に配置された金属製のリードフレームと、半導体素子とリードフレームの間に設けられ、メタライズ層に接合されている第1の接合層と、半導体素子とリードフレームの間に設けられ、第1の接合層とリードフレームを接合する第2の接合層とを備えている半導体装置。第1の接合層は、リードフレームに向かって部が膨らんでいる。
申请公布号 JPWO2013108706(A1) 申请公布日期 2015.05.11
申请号 JP20130554280 申请日期 2013.01.10
申请人 三菱電機株式会社 发明人 藤野 純司
分类号 H01L21/52;H01L25/07;H01L25/18 主分类号 H01L21/52
代理机构 代理人
主权项
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