发明名称 |
一种时间分辨率可调的超短脉冲脉宽测量仪 |
摘要 |
一种时间分辨率可调的超短脉冲脉宽测量仪,包括沿光路依次放置的第一耦合镜、第二耦合镜和分光镜,该分光镜将光一分为二,一路透射光经第一反射镜入射到自相关晶体上,另一路反射光依次经第二反射镜、第三反射镜和第四反射镜后,入射到所述的自相关晶体上;透射光和反射光在自相关晶体上产生单次自相关信号后,依次经第五反射镜、透镜和第六反射镜后,被光电探测器接收,该光电探测器的输出端与计算机相连。本发明基于同一套自相关光路,快捷、方便地实现飞秒量级和皮秒量级脉冲宽度的测量和分析,降低传统方案中因为改变非共线夹角而导致的等光程重调、晶体相位匹配角重调,从而降低时间成本、提高工作效率。 |
申请公布号 |
CN104596652A |
申请公布日期 |
2015.05.06 |
申请号 |
CN201510005263.6 |
申请日期 |
2015.01.04 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
欧阳小平;王杨;杨琳;刘崇;朱宝强;朱健强 |
分类号 |
G01J11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01J11/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
张泽纯;张宁展 |
主权项 |
一种时间分辨率可调的超短脉冲脉宽测量仪,其特征在于,包括沿光路依次放置的第一耦合镜(1)、第二耦合镜(2)和分光镜(3),该分光镜(3)将光一分为二,一路透射光经第一反射镜(4)入射到自相关晶体(8)上,另一路反射光依次经第二反射镜(5)、第三反射镜(6)和第四反射镜(7)后,入射到所述的自相关晶体(8)上;透射光和反射光在自相关晶体上产生单次自相关信号(9)后,依次经第五反射镜(10)、透镜(11)和第六反射镜(12)后,被光电探测器(14)接收,该光电探测器(14)的输出端与计算机(15)相连。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱 |