一种减少LED自动测试机混档率的方法

摘要

本发明公开了一种减少LED自动测试机混档率的方法，设置N-M(V_F1-V_F2)测试计算项目，通过限制N-M值的范围，把测试接触不良的产品剔除，既保证了产品的分档质量，保证测试分档的一致性，使由于正向电压的不一致存在光不平衡的问题得到解决；而且通过N-M(V_F1-V_F2)测试计算项目的不良比率量，实现实时监控测试探针的工作状态，以确定测试探针是否需要调整、清洗或打磨，定量性设置相应的参数值，以确定测试探针调整、清洗、打磨的周期，大大地降低了的生产成本。

主权项

一种减少LED自动测试机混档率的方法，LED自动测试机包括测试仪、分选机和控制器，分选机包括送料装置、测试站和分选装置，送料装置包括振盘和道轨，测试站上设置有吸嘴和测试探针，测试探针外接测试仪的供电电源，所述送料装置、测试站、分选装置测试仪都与控制器连接；送料装置把被测LED输送至测试站被吸嘴固定，测试探针接触被测LED的电极，由测试仪电源为被测LED提供一测试电流，通过测试仪对LED进行电参数、光度和色度的测试得到测试数据，分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档；其特征在于，方法具体包括以下步骤：步骤A00：调整好测试探针的高度和水平位置，设置好控制程序并进行校正，设定正向电压误差范围值为α，不良率上限值为β，并把α和β输入到控制器，控制器控制LED自动测试机自动运行；步骤B00：控制器控制测试探针分别两次接触被测LED进行两次测试，得到两个正向电压V_F1和V_F2；步骤C00：控制器判断V_F1‑V_F2是否在误差范围α内，若‑α≤V_F1‑V_F2≤+α，执行步骤D00，若V_F1‑V_F2>+α或V_F1‑V_F2<‑α，执行步骤E00；步骤D00：分选装置根据测试仪设置的组合把合格的、符合各组合要求的或不合格的被测LED进行分档，执行步骤F00；步骤E00：把与测试探针接触不良的被测LED剔除；步骤H00：控制器自动计算出被剔除的不良被测LED数量占全部被测LED数量的不良百分率，控制器判断不良百分率与不良率上限值为β的大小，若不良百分率≧β，执行步骤I00，若不良百分率<β，执行步骤J00；步骤I00：控制器控制发出测试探针需要调整、清洗或打磨处理的提示，执行步骤F00；步骤J00：控制器不发出测试探针需要进行调整清洗或打磨处理的提示；步骤F00：控制器判断全部被测LED是否已经分档完毕，否，执行步骤G00，是，执行步骤K00；步骤G00：执行步骤B00；步骤K00：结束测试。