发明名称 | 一种基于曲率计算的改进L曲线电学层析成像重建方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种基于曲率计算的改进L曲线电学层析成像重建方法,适用于泡状流层析成像,包含有以下步骤:根据被测场域,获取重建所需的相对边界测量值向量b和灵敏度矩阵A;利用Tikhonov正则化,计算并绘制L-曲线;判断L-曲线是否存在局部拐点;若不存在局部拐点,则通过L-曲线法确定优化选取的正则化系数;若存在局部拐点,通过改进的L-曲线法确定优化选取的正则化系数,方法为:通过计算L-曲线曲率的第二大峰值确定曲线的局部拐点,并将此局部拐点对应的正则化系数作为优化选取的系数;将优化选取的正则化系数代入Tikhonov正则化中进行图像重建逆问题求解;成像。本发明有利于电学层析成像逆问题的精确求解,提高了图像重建质量。 | ||
申请公布号 | CN104574462A | 申请公布日期 | 2015.04.29 |
申请号 | CN201510021945.6 | 申请日期 | 2015.01.16 |
申请人 | 天津大学 | 发明人 | 许燕斌;裴仰;董峰 |
分类号 | G06T11/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T11/00(2006.01)I |
代理机构 | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人 | 程毓英 |
主权项 | 一种基于曲率计算的改进L曲线电学层析成像重建方法,适用于泡状流层析成像,该方法将电学层析成像问题看作一个线性不适定问题Ax=b。其中,A为灵敏度矩阵,b为相对边界测量值向量,x为所求成像灰度值,包含有以下步骤:(1)根据被测场域,获取重建所需的相对边界测量值向量b和灵敏度矩阵A;(2)利用Tikhonov正则化,计算并绘制L‑曲线;(3)判断L‑曲线是否存在局部拐点;(4)若不存在局部拐点,则通过L‑曲线法确定优化选取的正则化系数;若存在局部拐点,通过改进的L‑曲线法确定优化选取的正则化系数,方法为:通过计算L‑曲线曲率的第二大峰值确定曲线的局部拐点,并将此局部拐点对应的正则化系数作为优化选取的系数;(5)将正则化系数代入Tikhonov正则化中进行图像重建逆问题求解;(6)根据求解所得灰度值,进行成像。 | ||
地址 | 300072 天津市南开区卫津路92号 |