发明名称 |
一种测试LED芯片光学特性参数的装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种测试LED芯片光学特性参数的装置。该装置包括计算机、恒流源、用于放置被测LED芯片的检测平台、分光镜、光谱仪和光电探测器;其中计算机、恒流源和用于放置被测LED芯片的检测平台依次连接,光谱仪和光电探测器分别与计算机连接;沿着放置在检测平台上的被测LED芯片发出光的光束方向,光谱仪和光电探测器分别排列在分光镜之后。该装置可以测试LED芯片的光学特性参数例如发光强度和光谱功率分布函数,并得出LED光源色度坐标、峰值波长和主波长的值,从而可以用于检测并确保LED芯片的性能符合设计指标的要求。 |
申请公布号 |
CN204301972U |
申请公布日期 |
2015.04.29 |
申请号 |
CN201420792026.X |
申请日期 |
2014.12.12 |
申请人 |
华南师范大学 |
发明人 |
潘中良;陈翎 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
广州市华学知识产权代理有限公司 44245 |
代理人 |
苏运贞 |
主权项 |
一种测试LED芯片光学特性参数的装置,其特征在于:包括计算机、恒流源、用于放置被测LED芯片的检测平台、分光镜、光谱仪和光电探测器;其中计算机、恒流源和用于放置被测LED芯片的检测平台依次连接,光谱仪和光电探测器分别与计算机连接;沿着放置在检测平台上的被测LED芯片发出光的光束方向,光谱仪和光电探测器分别排列在分光镜之后。 |
地址 |
510631 广东省广州市天河区石牌中山大道西55号 |