发明名称 一种测试LED芯片光学特性参数的装置
摘要 本实用新型公开了一种测试LED芯片光学特性参数的装置。该装置包括计算机、恒流源、用于放置被测LED芯片的检测平台、分光镜、光谱仪和光电探测器;其中计算机、恒流源和用于放置被测LED芯片的检测平台依次连接,光谱仪和光电探测器分别与计算机连接;沿着放置在检测平台上的被测LED芯片发出光的光束方向,光谱仪和光电探测器分别排列在分光镜之后。该装置可以测试LED芯片的光学特性参数例如发光强度和光谱功率分布函数,并得出LED光源色度坐标、峰值波长和主波长的值,从而可以用于检测并确保LED芯片的性能符合设计指标的要求。
申请公布号 CN204301972U 申请公布日期 2015.04.29
申请号 CN201420792026.X 申请日期 2014.12.12
申请人 华南师范大学 发明人 潘中良;陈翎
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人 苏运贞
主权项 一种测试LED芯片光学特性参数的装置,其特征在于:包括计算机、恒流源、用于放置被测LED芯片的检测平台、分光镜、光谱仪和光电探测器;其中计算机、恒流源和用于放置被测LED芯片的检测平台依次连接,光谱仪和光电探测器分别与计算机连接;沿着放置在检测平台上的被测LED芯片发出光的光束方向,光谱仪和光电探测器分别排列在分光镜之后。
地址 510631 广东省广州市天河区石牌中山大道西55号
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