发明名称 | 一种加工轨迹的生成方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种加工轨迹的生成方法。其包括:对待加工工件面型进行横向和纵向的网格划分,得到一组m行n列的网格;将网格中交点的面型误差大于或者等于加工阈值的交点确定为初始的驻留点,生成与网格交点相应的第一矩阵W,其中存在驻留点的位置对应的元素为1;对得到的第一矩阵W逐列扫描,对于同一列中任意两个1的元素之间仅有两个或者小于两个0元素的,将其中的0替换为1,更新第一矩阵W,统计第一矩阵中元素为1的元素及其对应的位置得到驻留点集合P;根据更新后的第一矩阵W获取最优分割线矩阵Fz;若矩阵Fz有k个元素,根据驻留点集合P、最优分割线矩阵Fz和各驻留点的纵坐标值,生成加工轨迹。 | ||
申请公布号 | CN104570931A | 申请公布日期 | 2015.04.29 |
申请号 | CN201410658702.9 | 申请日期 | 2014.11.18 |
申请人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明人 | 施春燕;李文宗;范斌;王佳 |
分类号 | G05B19/19(2006.01)I | 主分类号 | G05B19/19(2006.01)I |
代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人 | 孟卜娟;贾玉忠 |
主权项 | 一种加工轨迹的生成方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤S1:对待加工工件面型进行横向和纵向的网格划分,得到一组m行n列的网格;将网格中交点的面型误差大于或者等于加工阈值的交点确定为初始的驻留点,否则不存在驻留点;生成与网格交点相对应的m×n第一矩阵W;所述第一矩阵W中存在驻留点的位置对应的元素为1,否则为0;步骤S2:对步骤S1得到的所述第一矩阵W逐列扫描,对于同一列中任意两个1的元素之间仅有两个或者小于两个0元素的,则将其中的元素0替换为1,更新了所述第一矩阵W,并统计所述第一矩阵中元素为1的元素及其对应的位置得到驻留点集合P;步骤S3:根据步骤S2更新后的所述第一矩阵W获取最优分割线矩阵Fz;步骤S4:根据所述驻留点集合P、所述最优分割线矩阵Fz和所述各驻留点的纵坐标值,生成所述待加工工件面型加工轨迹。 | ||
地址 | 610209 四川省成都市双流350信箱 |