发明名称 |
近紫外光发射装置 |
摘要 |
本发明公开了一种近紫外光发射装置。该光发射装置包括n型接触层、p型接触层、设置在所述n型接触层和所述p型接触层之间的多重量子阱结构的活性区域、和设置在所述n型接触层和所述活性区域之间的至少一个电子阻挡层。n型接触层和p型接触层的每一个包括AlInGaN或AlGaN层,且电子阻挡层由AlInGaN或AlGaN形成。另外,电子阻挡层包括比邻接的层更多的Al,以阻挡电子流入活性区域。因此,电子迁移率被降低,通过此提高了活性区域中电子和空穴的复合率。 |
申请公布号 |
CN104576855A |
申请公布日期 |
2015.04.29 |
申请号 |
CN201410587650.0 |
申请日期 |
2014.10.28 |
申请人 |
首尔伟傲世有限公司 |
发明人 |
韩昌锡;金华睦;崔孝植;黄晶焕;朴起延 |
分类号 |
H01L33/06(2010.01)I;H01L33/30(2010.01)I |
主分类号 |
H01L33/06(2010.01)I |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 |
代理人 |
王占杰;谭昌驰 |
主权项 |
一种近紫外光发射装置,包括:n型接触层,包括AlGaN层或AlInGaN层;P型接触层,包括AlGaN层或AlInGaN层;设置在所述n型接触层和所述p型接触层之间的多重量子阱结构的活性区域;和设置在所述n型接触层和所述活性区域之间的至少一个电子阻挡层,其中,多重量子阱结构的活性区域包括势垒层和阱层,势垒层由AlInGaN或AlGaN形成并且包括第一势垒层,其设置在最接近n型接触层处,并且包括比其他势垒层更多的Al,和其中,电子阻挡层由AlInGaN或AlGaN形成,且包含比邻接的层更多的Al,以阻挡电子流入活性区域。 |
地址 |
韩国京畿道安山市 |