| 发明名称 | 测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置 | ||
| 摘要 | 一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置，包括：一光源；一偏振控制器，其输入端与光源的输出端相连；一光隔离器，其输入端与偏振控制器的输出端相连；一半导体光发大器，其输入端与光隔离器的输出端相连；一光功率测试仪，其输入端与半导体光发大器的输出端相连。本发明具有结构简单、成本低，测试方法精度高的优点。 | ||
| 申请公布号 | CN104568381A | 申请公布日期 | 2015.04.29 |
| 申请号 | CN201410784900.X | 申请日期 | 2014.12.17 |
| 申请人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明人 | 王玮钰;于丽娟;孙文惠;刘建国;祝宁华 |
| 分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 任岩 |
| 主权项 | 一种测量半导体光放大器偏振灵敏度的装置，包括：一光源；一偏振控制器，其输入端与光源的输出端相连；一光隔离器，其输入端与偏振控制器的输出端相连；一半导体光发大器，其输入端与光隔离器的输出端相连；一光功率测试仪，其输入端与半导体光发大器的输出端相连。 | ||
| 地址 | 100083 北京市海淀区清华东路甲35号 | ||