发明名称 半導体装置の製造方法
摘要 <p>MOSFET(1)の製造方法は、炭化珪素からなる基板(10)を準備する工程と、基板(10)とオーミック接触するドレイン電極(51)を形成する工程と、ドレイン電極(51)上に接触する裏面パッド電極(80)を形成する工程とを備えている。また、ドレイン電極(51)を形成する工程では、TiおよびSiを含む合金からなるドレイン電極(51)が形成される。また、形成された裏面パッド電極(80)は、MOSFET(1)の完成まで300℃以下の温度に維持される。これにより、電極間の良好な密着性を達成しつつ、製造工程を効率化することが可能となる。</p>
申请公布号 JPWO2013080584(A1) 申请公布日期 2015.04.27
申请号 JP20120545409 申请日期 2012.05.22
申请人 发明人
分类号 H01L21/28;H01L21/268;H01L21/3205;H01L21/336;H01L21/768;H01L23/522;H01L29/417;H01L29/78 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人
主权项
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