自聚焦光纤聚焦常数g的测量装置和方法

摘要

本发明公开了一种自聚焦光纤聚焦常数g的测量装置及方法，本测试装置包括预处理光纤装置及测量光纤折射率装置。将盖玻片凝胶于样品腔底部开孔处中心，清洁样品腔并注入匹配液至充满。将裸光纤装入光纤夹具中，经切割、抛光处理后，装夹在夹持架中。推动光纤直到其端面与盖玻片接触。在计算机中设置自动对准和一维线性扫描方式，快速获取折射率分布轮廓图。根据测量装置检测的折射率分布轮廓图，提取纤芯内折射率数据，采用曲线拟合算法，实现对自聚焦光纤聚焦常数g和中心折射率n₀的测量。

主权项

一种自聚焦光纤聚焦常数g的测量装置，包括自聚焦光纤折射率测量装置和自聚焦光纤端面预处理装置；其特征在于，所述自聚焦光纤折射率测量装置包括光源（101）、聚焦透镜组合（102）、Z轴步进电机（103）、盖玻片（104）、X‑Y轴精密调整台（105）、样品腔（106）、夹持架（107）、椭球面反射镜（108）、探测器（109）、计算机（110）、底座（111）和光纤夹具（112）；所述光纤夹具（112）在测量自聚焦光纤折射率时装夹在所述夹持架（107）上，所述夹持架（107）和所述样品腔（106）固定在所述X‑Y轴精密调整台（105）上，所述X‑Y轴精密调整台（105）固定在底座（111）上，所述Z轴步进电机（103）与所述聚焦透镜组合（102）相连接，所述探测器（109）与所述计算机（110）通过数据线连接；测量光路的传播路径为：调整所述Z轴步进电机（103），将所述光源（101）发出的激光束依次经过所述聚焦透镜组合（102）和所述盖玻片（104）后，会聚在待测的自聚焦光纤样品（113）的端面，将从自聚焦光纤样品（113）中折射出的激光束经所述椭球面反射镜（108）反射后，由所述探测器（109）接收；所述自聚焦光纤端面预处理装置包括夹紧旋钮（201）、三维调整台（202）、光纤切割机（207）、基准平台（208），所述光纤夹具（112）在预处理自聚焦光纤端面时固定放置在三维调整台（202）上，所述三维调整台（202）和所述光纤切割机（207）固定在所述基准平台（208）上；所述光纤切割机（207）包括光纤固定夹具（203）、磁吸夹锁（204）、光纤切割刀（205）和移动电机（206）。