发明名称 一种测量铝电解质温度和初晶温度的双传感器探头
摘要 一种测量铝电解质温度和初晶温度的双传感器探头,包括探头Ⅰ和探头Ⅱ,每个探头由一个温度传感器和一个保护套管组成;温度传感器的上部固定在保护套管内;其中探头Ⅰ的底部固定有一个取样室,取样室由中间槽和测量筒组成,中间槽内壁上方与探头Ⅰ的保护套管外壁相配合并固定在一起;中间槽和测量筒之间设有通道,探头Ⅰ的传感器通过该通道插入测量筒内。本发明的装置方法适用于各种成分的电解质温度测量;探头Ⅰ底端的取样室可保护传感器不受熔体流动的影响,重复测量不需要处理附着的电解质,便于操作且有利于延长保护套管的寿命。本发明的装置及方法具有测量结果准确,重复测量稳定,便于操作的效果。
申请公布号 CN104535212A 申请公布日期 2015.04.22
申请号 CN201510021606.8 申请日期 2015.01.15
申请人 东北大学 发明人 高炳亮;王兆文;侯剑峰;石忠宁;胡宪伟;于江玉
分类号 G01K7/04(2006.01)I;G01N25/12(2006.01)I;C25C3/06(2006.01)I 主分类号 G01K7/04(2006.01)I
代理机构 沈阳东大知识产权代理有限公司 21109 代理人 梁焱
主权项 一种测量铝电解质温度和初晶温度的双传感器探头,包括探头Ⅰ和探头Ⅱ,每个探头由一个温度传感器和一个保护套管组成;温度传感器的上部固定在保护套管内;其特征在于:探头Ⅰ的底部固定有一个取样室,取样室由中间槽和测量筒组成,中间槽内壁上方与探头Ⅰ的保护套管外壁相配合并固定在一起;中间槽和测量筒之间设有通道,探头Ⅰ的传感器通过该通道插入测量筒内。
地址 110819 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号
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