内存测试方法及装置

摘要

一种内存测试方法及装置，适于由电子装置测试内存。此方法先扫描用以测试内存的时钟脉冲讯号的第一波形的左右边界，以取得所述左右边界的两个交点之间的最大宽度。接着，取得内存输出的数据讯号的参考电压，并取得此参考电压与数据讯号的第二波形的左右边界的两个交点之间的数据宽度。最后，判断数据宽度与最大宽度的差值是否大于门槛值，而当所述差值大于门槛值时，判断内存损坏。

主权项

一种内存测试方法，适于由一电子装置测试一内存，其特征在于，该方法包括下列步骤：扫描用以测试该内存的一时钟脉冲讯号的一第一波形的左右边界，以取得该左右边界的两个交点之间的一最大宽度；取得该内存输出的一数据讯号的一中央参考电压；取得该中央参考电压与该数据讯号的一第二波形的左右边界的两个交点之间的一数据宽度；判断该数据宽度与该最大宽度的一差值是否大于一门槛值；以及当该差值大于该门槛值时，判断该内存损坏。