发明名称 Ultrasonic probe for examining an object by profilometry and corresponding examination method
摘要 La sonde comprend une pluralité d'éléments émetteurs (12) propres à émettre des ultrasons pour émettre un faisceau ultrasonore focalisé (F) dans l'objet au travers d'une zone active (6) d'une surface (8) de l'objet (4), un dispositif de profilométrie (20) pour déterminer le profil de ladite surface de l'objet et commander l'émission du faisceau ultrasonore en fonction du profil déterminé. Le dispositif de profilométrie (20) comprend un appareil de prise d'image (22) pour prendre au moins une image numérique de la zone active et un module de traitement d'image (24) propre à déterminer le profil de la zone active (6) par analyse du flou optique de la ou au moins une image.
申请公布号 EP2860522(A1) 申请公布日期 2015.04.15
申请号 EP20140187760 申请日期 2014.10.06
申请人 AREVA NP 发明人 TAGLIONE, MATTHIEU;CAULIER, YANNICK
分类号 G01N29/26;G01B11/30;G01N21/88;G06T7/00 主分类号 G01N29/26
代理机构 代理人
主权项
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