| 摘要 |
1. Цеолит-X, имеющийa) каркасное молярное отношение Si/Al в пределах от 1,0 до 1,5;b) средний диаметр не более чем 2,7 микрон, определяемый путем анализа на седиграфе; иc) относительную интенсивность LTA не более чем 0,35, определяемую с помощью способа рентгеновской дифракции (XRD) с применением источника излучения CuKα для получения XRD-интенсивностей в диапазоне от 5° до 25° 2θ, гдеотносительную интенсивность LTA рассчитывают как умноженное на 100 отношение:где (1) LTA-XRD-интенсивность образца цеолита-X представляет собой сумму интенсивностей для каждого LTA-пика с индексами Миллера (200), (420) и (622) при 7,27±0,16°, 16,29±0,34° и 24,27±0,50° 2θ, и(2) контрольная XRD-интенсивность контрольного материала цеолита типа LTA представляет собой сумму интенсивностей для каждого пика LTA с индексами Миллера (200), (420) и (622) при 7,27±0,16°, 16,29±0,34° и 24,27±0,50° 2θ,гдеLTA-XRD-интенсивность образца и контрольная XRD-интенсивность, каждая:(i) получены для формы цеолита-X с замененным Na и контрольного материала цеолита типа LTA, соответственно, и(ii)(ii) приведены в равновесие при 50% относительной влажности.2. Цеолит-X по п.1, в котором размер отдельных ячеек цеолита-X составляет от 24,99 Å до 24,950 Å, определенный с помощью XRD композиции Na-замещенной формы цеолита-X, приведенной в равновесие при 50% относительной влажности.3. Цеолит-X по п.1, в котором размер отдельных ячеек цеолита-X составляет от 24,985 Å до 24,955 Å, определенный с помощью XRD Na-замещенной формы цеолита-X, приведенной в равновесие при 50% относительной влажности.4. Цеолит-X по п.1, в котором каркасное молярное отношение Si/Al цеолита-X составляет в пределах от 1,15 до 1,35.5. Цеолит-X по п.1, в котором интенсивность LTA цеолита-X составляет не более чем 0,30.6. Цеолит-X по п.1 |
