发明名称 跌落测试装置
摘要 公开了一种跌落测试装置,包括:电路跌落单元,在跌落槽打开时,待测物体从跌落槽的开口跌落;电路回收桶单元,所述电路回收桶单元包括冲击介面、锥形扇面、以及电路导出管,其中锥形扇面具有与电路导出管连通的底端开口,所述冲击介面接收待测物体,并且翻转将待测物体传送至锥形扇面,经由锥形扇面和电路导出管流出;以及电路回收单元,接收从电路回收桶单元的电路导出管流出的待测物体。所述跌落测试装置可以对加速度计电路的耐冲击能力进行测试,从而筛选出可靠性高的产品。
申请公布号 CN104502050A 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201410843682.2 申请日期 2014.12.29
申请人 杭州士兰微电子股份有限公司 发明人 吴欢欢;符强;魏建中
分类号 G01M7/08(2006.01)I 主分类号 G01M7/08(2006.01)I
代理机构 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人 蔡纯;刘锋
主权项 一种跌落测试装置,包括:电路跌落单元,所述电路跌落单元包括伸缩平台、以及固定在伸缩平台滑台上的底部有开合功能的跌落槽,在跌落槽打开时,待测物体从跌落槽的开口跌落;电路回收桶单元,所述电路回收桶单元包括冲击介面、锥形扇面、以及电路导出管,其中锥形扇面具有与电路导出管连通的底端开口,所述冲击介面接收待测物体,并且翻转将待测物体传送至锥形扇面,经由锥形扇面和电路导出管流出;以及电路回收单元,所述电路回收单元包括伸缩平台、以及固定在伸缩平台滑台上的底部有开合功能的回收槽,用于接收从电路回收桶单元的电路导出管流出的待测物体。
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