发明名称 一种基于MEMS工艺的腔长可调F-P压力传感器及成型方法
摘要 本发明公开了一种基于MEMS工艺的腔长可调F-P压力传感器及成型方法,属于高精度光纤传感测量领域。所述F-P压力传感器主要包括F-P压力敏感MEMS芯片和准直扩束光纤;其中,F-P压力敏感MEMS芯片由SOI硅片和玻璃片组成;SOI硅片包括顶层硅、中间氧化层和底层硅;SOI硅片通过硅-硅键合固定在双抛硅片上,准直扩束光纤通过焊料固定在双抛硅片的圆孔中;所述F-P压力敏感MEMS芯片基于MEMS微加工技术制备,通过与基座和准直扩束光纤对准封装后构成光纤F-P压力传感器;所述传感器兼具高灵敏度、高测量精度、过量程能力优异、机械可靠性高和动态测量响应特性好。
申请公布号 CN104502016A 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201410729340.8 申请日期 2014.12.04
申请人 刘玉珏 发明人 刘玉珏
分类号 G01L11/02(2006.01)I 主分类号 G01L11/02(2006.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 杨志兵;李爱英
主权项 一种基于MEMS工艺的腔长可调F‑P压力传感器,其特征在于:所述腔长可调F‑P压力传感器包括F‑P压力敏感MEMS芯片(1)和准直扩束光纤(2);其中,所述F‑P压力敏感MEMS芯片(1)由SOI硅片和双抛硅片(4)组成;所述SOI硅片包括顶层硅(5)、中间氧化层(6)和底层硅(7);其中,底层硅(7)的外表面依次沉积有增透膜和钝化层(8);由SOI硅片顶层硅(5)的表面沿SOI硅片厚度方向加工深度至底层硅(7)的环形凹槽,在环形凹槽的中心形成圆柱形凸台;所述圆柱形凸台的表面与底层硅(7)和中间氧化层(6)的分界面处于同一平面,且圆柱形凸台的表面沉积有高反膜Ⅰ(3);所述准直扩束光纤(2)的上端设置有自聚焦透镜或等效光学元件,并在准直扩束光纤(2)的上端面沉积有高反膜Ⅱ(9);准直扩束光纤(2)的出射平行光束直径大于光纤纤芯直径;所述双抛硅片(4)具有中心孔,所述圆孔直径大于准直扩束光纤(2)的外径;整体连接关系为:所述SOI硅片通过硅‑硅键合固定在双抛硅片(4)上,键合面为顶层硅(5)的外表面和双抛硅片(4)一侧的表面;准直扩束光纤(2)通过焊料同轴固定在双抛硅片(4)的中心孔中;其中,SOI硅片上的环形凹槽、双抛硅片(4)一侧的表面与准直扩束光纤(2)的上端面形成密闭空腔;所述高反膜Ⅰ(3)与高反膜Ⅱ(9)之间的区域构成F‑P光学干涉腔;所述双抛硅片(4)的中心孔与SOI硅片上底层硅(7)的圆柱形凸台同轴,所述高反膜Ⅰ(3)和高反膜Ⅱ(9)的中心点位于圆柱形凸台的轴线上;且高反膜(3)的面积大于准直扩束光纤(2)的出射光束面积并小于等于圆柱形凸台的面积。
地址 200336 上海市长宁区天山路88弄12号1601室
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