发明名称 用于对部件的性能进行测试的组件
摘要 根据本发明,提供一种用于测试部件的性能的组件,该组件包括:可转动转台,其包括多个部件装卸头,部件装卸头中的每一个可以保持部件;可旋转头组件,该可旋转头组件包括可旋转头,其中可旋转头包括一个或多个嵌套,嵌套中的每一个具有电接触件,并且嵌套中的每一个适合于接纳部件使得部件可以电连接到该嵌套的电接触件;其中嵌套还被配置成使得当可旋转头旋转时,其能保持部件使得部件保持电连接到电接触件;其中可旋转头被布置成邻近转台使得部件可以从转台上的部件装卸头直接传递到可旋转头上的嵌套;处理器,其布置成与可旋转头上的一个或多个嵌套的(多个)电接触件电连通使得处理器能向嵌套中保持的部件发送命令信号,命令信号造成部件以预定义方式操作,并且从部件接收响应信号,在部件由可旋转头旋转时,当部件以预定义方式操作时,部件生成响应信号;并且其中处理器被配置成从其接收的响应信号确定部件的性能。本发明还提供一种相对应方法。
申请公布号 CN104508504A 申请公布日期 2015.04.08
申请号 CN201380040709.8 申请日期 2013.07.11
申请人 伊斯梅卡半导体控股公司 发明人 P. 罗伊;T. 伊梅
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 原绍辉;谭祐祥
主权项 一种用于对部件的性能进行测试的组件,所述组件包括:可转动转台,其包括多个部件装卸头,所述部件装卸头中的每一个可以保持部件;可旋转头组件,所述可旋转头组件包括可旋转头,其中所述可旋转头包括一个或多个嵌套,所述嵌套中的每一个具有电接触件,并且所述一个或多个嵌套中的每一个适合于接纳部件从而使得所述部件能电连接到所述嵌套的电接触件;其中所述嵌套还配置成使得当所述可旋转头旋转时,其能保持部件使得所述部件保持电连接到所述电接触件;其中所述可旋转头布置成邻近于所述转台使得部件可以从可转动转台上的部件装卸头直接传递到所述可旋转头上的嵌套;处理器,其布置成与所述可旋转头上的一个或多个嵌套的电接触件成电连通从而使得所述处理器能向嵌套中所保持的部件发送命令信号、并且从所述部件接收响应信号,所述命令信号造成所述部件以预定义方式操作;在所述部件由所述可旋转头旋转时,当所述部件以预定义方式操作时,响应信号由所述部件生成;以及其中所述处理器配置成从其接收的响应信号确定所述部件的性能。
地址 瑞士拉绍德封