| 摘要 |
<p>(과제) 칩 전자 부품 수용 용기에 대한 부적합 칩 전자 부품의 혼입을 방지할 수 있고, 그리고 칩 전자 부품 수용 용기를 꺼내는 것도 용이한 칩 전자 부품의 검사 선별 장치를 제공하는 것. (해결수단) 칩 전자 부품 유지판 (24) 이 구비하는 다수의 투공 (23) 에 수용된 칩 전자 부품의 전기 특성을 검사 선별하여 상면이 개구된 적어도 2 개의 칩 전자 부품 수용 용기 (34) 에 수용하는 장치로서, 상기 유지판 (24) 의 투공 (23) 으로부터 배출된 칩 전자 부품의 배출 통로 (37) 에 접속하는 칩 전자 부품 배출 통로 지지 구조체 (39a) 에, 배출 통로 (37) 를 통하여 용기 (34) 에 보내지는 가압 기체의 적어도 일부를 빠져 나가게 하는 가압 기체 릴리프 통로 (41) 가 구비되어 있는 것, 그리고 용기 (34) 가, 이 용기 (34) 의 개구면 (33) 과 지지 구조체 (39a) 의 하측 표면 (43a) 의 간격의 조절을 가능하게 하는 승강 수단 (42) 에 의해 지지되어 있는 칩 전자 부품의 검사 선별 장치.</p> |
