发明名称 | 用于8-位存储器设备的差错校正机制 | ||
摘要 | 与常规的机制相比,本文所描述的8-位宽数据差错检测和校正机制需要更少的存储器芯片,因此提供了减小的系统复杂度和减小的系统功耗。这种技术依赖于测试固定的一组可能的解决方案以便校正故障。这种差错代码提供了非常高的差错检测速率,但需要一组差错尝试来校正检测到的故障。考虑到其发生频率很低,针对不频繁差错的额外校正等待时间可能是可接受的。对于重复的校正,可以维持一日志,以简化差错校正。 | ||
申请公布号 | CN102117662B | 申请公布日期 | 2015.04.01 |
申请号 | CN201010620099.7 | 申请日期 | 2010.12.21 |
申请人 | 英特尔公司 | 发明人 | D·W·布鲁兹辛斯基 |
分类号 | G06F11/10(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/10(2006.01)I |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 毛力 |
主权项 | 一种差错校正方法,包括:使用多项式方程产生与64‑位数据值相对应的8‑位校验和值;使所述8‑位校验和值与所述64‑位数据值串接起来以形成72‑位数据块;将所述72‑位数据块存储到存储器中;从所述存储器中读取所述72‑位数据块;针对从所述存储器中读取的所述72‑位数据块,使用所述多项式方程产生新的校验和值;如果新的校验和值指示了差错,则对来自一个DRAM的1‑位持久故障或8‑位永久故障启用差错校正操作。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |