发明名称 一种用于通信波段的超低密度、位置可控三维微腔InAsSb量子点结构
摘要 本发明提出了一种用于通信波段的超低密度、位置可控三维微腔InAsSb量子点结构,其基本思想是采用InAsSb量子点,在理论上InAsSb量子点可以满足量子点的发射波长进入1.3µm和1.5µm通信波段。在预先刻蚀的“类似倒三棱锥体”图形衬底上制备高质量、高反射率的超晶格布拉格反射镜(DBR)层,这在一定程度上增加了量子点和起始生长界面的物理距离,同时,大大地增加了量子点发光的捕获效率,使发光效率大大提高。可实现高质量超低密度、位置可控,加之高反射率DBR层对量子点发光的有效收集,并以此为基础为制作通信波段用的量子点单光子发射器件打下基础。
申请公布号 CN104466679A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410816032.9 申请日期 2014.12.25
申请人 长春理工大学 发明人 李占国;尤明慧;乔忠良;王勇;高欣;刘国军;曲轶;马晓辉
分类号 H01S5/343(2006.01)I 主分类号 H01S5/343(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种用于通信波段的超低密度、位置可控三维微腔InAsSb量子点结构包括:n型GaAs图形衬底(1);AlGaAs超晶格层(2);InAsSb量子点(3) ;GaSb覆盖层(4);衬底(1)为(111) B取向、Si掺杂浓度1‑2×10<sup>18</sup>cm<sup>‑3</sup>的GaAs晶体材料;AlGaAs/GaAs层(2),生长温度540℃,非故意掺杂,浓度为5×0<sup>17</sup>cm<sup>‑3</sup>,AlGaAs生长50nm,GaAs生长30nm,共生长10个周期;InAsSb量子点(3),生长温度540℃,采用p型掺杂,浓度为7×10<sup>17</sup>cm<sup>‑3</sup>;覆盖层约为50nm的非均匀厚度的GaAs层(4),生长温度540℃,非故意掺杂。
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