发明名称 一种减少重掺硼直拉硅片中原生位错的方法
摘要 本发明公开了一种减少重掺硼直拉硅片中原生位错的方法,包括:在纯度大于99.99%的氩气气氛下,将重掺硼直拉硅片置于1000℃-1100℃维持1-2小时,然后自然冷却;其中,所述重掺硼直拉硅片的硼掺杂浓度为7×10<sup>19</sup>-1.1×10<sup>20</sup>cm<sup>-3</sup>。本发明工艺简单,操作方便;能够快速、有效地减少甚至消除重掺硼直拉硅片中的原生位错,有效提高了重掺硼直拉硅片的质量;特别适用于硼掺杂浓度为7×10<sup>19</sup>-1.1×10<sup>20</sup>cm<sup>-3</sup>的重掺硼直拉硅片。
申请公布号 CN102560684B 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201210011355.1 申请日期 2012.01.13
申请人 浙江大学 发明人 马向阳;葛媛;赵建江;杨德仁
分类号 C30B33/02(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I 主分类号 C30B33/02(2006.01)I
代理机构 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人 胡红娟
主权项 一种减少重掺硼直拉硅片中原生位错的方法,包括:在纯度大于99.99%的氩气气氛下,将重掺硼直拉硅片置于1000℃‑1100℃维持1‑1.5小时,然后自然冷却;所述重掺硼直拉硅片的硼掺杂浓度为7×10<sup>19</sup>‑1.1×10<sup>20</sup>cm<sup>‑3</sup>。
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