细长轴深孔壁厚测量装置及测量方法

摘要

本发明提供了一种细长轴深孔壁厚测量装置及测量方法。该细长轴深孔壁厚测量装置，包括：底座；安装组件，包括用于安装待测细长轴的支撑座；检测组件，包括安装座、测量杆、检测件以及处理器，其中，安装座沿底座的长度方向可移动地设置；测量杆可沿第一方向运动，该第一方向为垂直于放置在支撑座上的待测细长轴的轴线的方向；检测件用于检测待测细长轴的深孔的孔壁上的多个第一点处的孔壁坐标和待测细长轴的外表面上的与该多个第一点对应的多个第二点处的外表面坐标；处理器与检测件连接以对检测件检测的数据进行处理以确定待测细长轴深孔的壁厚。本发明的细长轴深孔壁厚测量装置及测量方法的测量精度高，且结构简单，自动化程度高，便于实现。

主权项

一种细长轴深孔壁厚测量装置，其特征在于，包括：底座(10)；安装组件(20)，所述安装组件(20)包括用于安装待测细长轴(50)的支撑座(21)；检测组件(30)，所述检测组件(30)包括安装座(31)、测量杆(32)、检测件(33)以及处理器，其中，所述安装座(31)设置在所述底座(10)上，所述安装座(31)沿所述底座(10)的长度方向可移动地设置；所述测量杆(32)的第一端设置在所述安装座(31)上，所述测量杆(32)平行于所述底座(10)，且所述测量杆(32)的轴线与放置在所述支撑座(21)上的所述待测细长轴(50)的轴线方向一致，所述测量杆(32)可沿第一方向运动，该第一方向为垂直于放置在所述支撑座(21)上的所述待测细长轴(50)的轴线的方向；所述检测件(33)设置在所述测量杆(32)的靠近所述支撑座(21)的一端以检测所述待测细长轴(50)的深孔的孔壁上的多个第一点处的孔壁坐标和所述待测细长轴(50)的外表面上的与该多个第一点对应的多个第二点处的外表面坐标；所述处理器与所述检测件(33)连接以对所述检测件(33)检测的数据进行处理以确定所述待测细长轴(50)深孔的壁厚。