发明名称 一种沟槽功率MOSFET器件及其制作方法和静电保护结构
摘要 本发明公开了一种沟槽功率MOSFET器件的静电保护结构,所述沟槽功率MOSFET器件的有源区外围的栅极引出端设置区域中,其中一部分区域设置了栅极引出端,另一部分区域设置了若干个静电保护引出端,该静电保护引出端包括至少一对PN结,PN结两端分别与沟槽功率MOSFET器件的源极和栅极连接。另外本发明还公开了带上述静电保护结构的功率MOSFET器件以及制作方法,该静电保护结构无需在沟槽功率MOSFET器件上额外规划出ESD区域,节省了沟槽功率MOSFET器件的面积,降低了成本,制作方法流程简单,节省光刻次数,降低成本,ESD能力可灵活调节。
申请公布号 CN104465628A 申请公布日期 2015.03.25
申请号 CN201410763514.2 申请日期 2014.12.11
申请人 张家港凯思半导体有限公司 发明人 丁磊;殷允超
分类号 H01L23/60(2006.01)I;H01L27/02(2006.01)I;H01L27/04(2006.01)I;H01L21/77(2006.01)I 主分类号 H01L23/60(2006.01)I
代理机构 张家港市高松专利事务所(普通合伙) 32209 代理人 陈晓岷
主权项 一种沟槽功率MOSFET器件的静电保护结构,其特征在于:所述沟槽功率MOSFET器件的有源区外围的栅极引出端设置区域中,其中一部分区域设置了栅极引出端,另一部分区域设置了若干个静电保护引出端,该静电保护引出端包括至少一对PN结,PN结两端分别与沟槽功率MOSFET器件的源极和栅极连接。
地址 215612 江苏省苏州市张家港市凤凰镇双龙村张家港凯思半导体有限公司