发明名称 | 带真空检测的测试杜瓦 | ||
摘要 | 本专利公开了一种带真空检测的测试杜瓦,由金属材料的杜瓦内筒、杜瓦外筒和杜瓦窗口帽组成的真空密封容器,在杜瓦窗口帽上焊接真空检测阀,真空检测阀耦合真空计,从而实现杜瓦真空检测。该结构杜瓦的优点在于充分利用测试杜瓦的窗口帽和杜瓦不是一体的结构,将常规的窗口帽拆下,更换为带真空检测功能的窗口帽,实现测试杜瓦的真空和真空保持时间测试。该结构杜瓦可以在不改变常规测试杜瓦结构的基础上,实现测试杜瓦真空和真空保持时间的测试,并且安装和拆卸简单方便,特别适合测试杜瓦的真空检测验收。 | ||
申请公布号 | CN204228273U | 申请公布日期 | 2015.03.25 |
申请号 | CN201420144826.0 | 申请日期 | 2014.03.28 |
申请人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明人 | ;陈安森;张亚妮;贺香荣;范广宇;龚海梅 |
分类号 | G01J5/02(2006.01)I | 主分类号 | G01J5/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 郭英 |
主权项 | 一种带真空检测的测试杜瓦,它包括由金属材料制成的杜瓦内筒(1)、杜瓦外筒(2)和杜瓦窗口帽(3),其特征在于:所述的杜瓦窗口帽(3)带真空检测阀(4),真空检测阀(4)上耦合真空计(5),检测测试杜瓦的真空时,通过排气阀(6)将杜瓦抽成真空,真空计(5)实时检测杜瓦内的真空,从而获取测试杜瓦真空和真空保持时间的数据。 | ||
地址 | 200083 上海市虹口区玉田路500号 |