发明名称 Ga2O3系半導体素子
摘要 高品質のGa2O3系半導体素子を提供する。一実施の形態として、α−Al2O3基板2上に直接、又は他の層を介して形成されたα−(AlxGa1-x)2O3単結晶(0≦̸x<1)からなるn型α−(AlxGa1-x)2O3単結晶膜3と、n型α−(AlxGa1-x)2O3単結晶膜3上に形成されたソース電極12及びドレイン電極13と、n型α−(AlxGa1-x)2O3単結晶膜3中に形成され、ソース電極12及びドレイン電極13にそれぞれ接続されたコンタクト領域14、15と、n型α−(AlxGa1-x)2O3単結晶膜3のコンタクト領域14とコンタクト領域15との間の領域上にゲート絶縁膜16を介して形成されたゲート電極11と、を含むGa2O3系MISFET10を提供する。
申请公布号 JPWO2013035843(A1) 申请公布日期 2015.03.23
申请号 JP20130532671 申请日期 2012.09.07
申请人 株式会社タムラ製作所;独立行政法人情報通信研究機構;国立大学法人京都大学 发明人 佐々木 公平;東脇 正高;藤田 静雄
分类号 H01L29/786;C30B29/16;C30B29/22;H01L21/20;H01L21/203;H01L21/336 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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